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全新的MCK-12RC半導體 \FPD 檢查顯微鏡,支持 300mm 晶圓及 17英寸液晶面板的檢查,含 4、6、8、12英寸多種轉盤,可適用不同尺寸的晶圓檢查。適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業(yè)用于觀察半透明或不透明的物資,適合對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析等。
研究型大平臺金相顯微鏡MCK-6RC,適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業(yè)用于觀察半透明或不透明的物資,適合對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析等。
實驗室金相顯微鏡MCK-4RC,適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業(yè)用于觀察半透明或不透明的物資,適合對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析等。
科研級倒置金相顯微鏡MCK-41MC,全面涵蓋明場、暗場、簡易偏光、微分干涉等多種觀察方式,適應多種研究需求??蓮V泛應用于鑄造、冶煉、熱處理的研究,原材料檢驗或材料處理分析等多種檢測的倒置顯微鏡。
大平臺微分干涉金相顯微鏡 DMM-1200C,可對半導體晶圓檢測、太陽能硅片制造業(yè)、電子信息產業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的,作為高級工業(yè)金相顯微鏡使用;可進行明場觀察、落射偏光、DIC觀察,廣泛用于工廠、研究機構、高等院校對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。
微分干涉顯微鏡(PDB檢測顯微鏡)DMM-1100C,適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業(yè)用于觀察半透明或不透明的物資,適合對太陽能電池硅片、半導體晶圓檢測、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析等。
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